Промышленный микроскоп Saike Digital SK3000A1H-CS
Технические характеристики Saike Digital SK3000A1H-CS
Материал оптики | оптическое стекло |
Рабочее расстояние | 100 мм |
Диапазон перемещения | 30 x 35 мм |
Максимальная высота объекта | 50 мм |
Подсветка | светодиодная с регулировкой яркости, кольцевой свет, верхний и нижний свет |
Функция измерения | есть |
Точность измерения | 0,2 мм |
Характеристики объектива | |
Электронный зум (увеличение) | 19-135 крат (для монитора 8 дюймов) |
Оптический зум | 0,67х - 4.6х |
Поле зрения | 15 × 13-2,25 х 1,7 мм |
Кратность трансфокатора | 1:6,9 |
Крепление объектива | C-mount |
Фокусировка | переменное фокусное расстояние |
Общие характеристики | |
Цвет | белый |
Габариты основания | 100 мм х 120 мм |
Размер платформы | 50 x 50 мм |
Высота | 350 мм |
Комплектация | электронный микроскоп Saike Digital SK3000A1H-CS- 1 шт |
Универсальный микроскоп Saike Digital SK3000A1H-CS
Saike Digital представляет микроскоп промышленного назначения SK3000A1H-CS с электронным увеличением 19-135 крат. Модель будет полезна при осуществлении мероприятий по контролю качества на производстве, а также при исследовании материалов на возможные дефекты. Настраиваемый оптический зум лежит в диапазоне 0,67х – 4.6х.
Материалом оптики выступает оптическое стекло, которое имеет следующие преимущества:
- высокая прозрачность;
- минимальные искажения изображения;
- устойчивость к царапинам и химическим воздействиям;
- высокая однородность и стабильность характеристик;
- длительный срок службы;
- минимальная хроматическая аберрация.
Рабочее расстояние в 100 мм даёт разместить под объективом крупные образцы для исследования. Такие промышленные микроскопы позволяют искать брак и микроповреждения в неразборных деталях, монолитных конструкциях, фрагментированных полимерах. Этот цифровой микроскоп Saike Digital дополнен кольцевой подсветкой светодиодного типа, специальный механизм позволяет регулировать яркость освещения для конкретных задач.
Отрасли промышленности, где будет полезен Saike Digital SK3000A1H-CS:
- электронная промышленность (контроль качества печатных плат, микросхем и других компонентов);
- машиностроение (анализ поверхности деталей, выявление микротрещин и дефектов обработки);
- металлургия (исследование структуры металла, выявление дефектов литья и сварки);
- производство полимеров (анализ структуры и дефектов полимерных материалов);
- ювелирная промышленность (оценка качества драгоценных камней и ювелирных изделий).
Обзорная таблица микроскопов Saike Digital
Характеристики | SK3000A1H-CS | SK3000A1T |
Материал оптики | оптическое стекло | |
Рабочее расстояние | 100 мм | |
Диапазон перемещения | 30 x 35 мм | |
Максимальная высота объекта | 50 мм | |
Функция измерения | есть | |
Точность измерения | 0,2 мм | |
Электронный зум | 19-135 крат | |
Оптический зум | 0,67х - 4.6х | |
Кратность трансфокатора | 1:6,9 | |
Крепление объектива | C-mount | |
Размер платформы | 50 x 50 мм | 25 x 25 мм |
Технические характеристики, внешний вид и комплектация товара могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.